News release: Identifying imperfections with Raman spectroscopy (pdf)
Filstorlek: 2,25 MB
Språk: English
An article in Compound Semiconductor magazine, October 2015, describes how Raman spectroscopy allows routine mapping of SiC wafers in little more than an hour.
Denna typ av fil kräver en läsare. Den kan hämtas ner från Adobe
Hittade du inte det du sökte efter?
berätta vad du inte hittade så gör vi vårt bästa för att hjälpa till