inLux™ SEM-Ramangränssnitt
En universell lösning för SEM-Ramananalyser på plats
Det innovativa inLux™ SEM-Ramangränssnittet erbjuder Raman-funktioner med hög kvalitet till din svepelektronmikroskop (SEM)-kammare. Nu kan du samla in Raman-spektra som kan skapa bilder i 2D och 3D medan bilderna samtidigt avbildas i SEM. Provet förblir statiskt mellan SEM-bilderna och Raman-datainsamlingslägena, så att du kan vara säker på att platserna är exakta samma när du jämför Raman-bilder och SEM-bilder.
inLux-gränssnittet erbjuder ett omfattande utbud av Raman-funktioner. Du kan samla in spektra från enskilda punkter, multipla punkter eller skapa 2D och 3D konfokala Raman-bilder. inLux-gränssnittet kommer fullt utrustat för allt detta arbete som standard så att du kan analysera volymer som är större än 0,5 mm i varje axel. Den använder helt kodad positionskontroll, ned till 50 nm, vilket säkerställer exakt Raman-avbildning.
Huvudsakliga fördelar
- Informationsrik - Raman, fotoluminiscens (PL) and spektral katodluminiscens (CL)-analys utförs simultant och samlokaliseras med SEM-avbildning.
- Universell - inLux-gränssnittet kan monteras på ett stort antal SEM från olika tillverkare, med olika kammarstorlekar, och utan att SEM måste ändras.
- Icke-invasive - inLux-proben kan dras tillbaka helt med ett enda klick. Detta säkerställer att proben inte stör andra SEM-funktioner eller arbetsflöden när den inte används.
- Fastställ fördelningen - Konfokala Raman-bilder kan skapas som standard och på så sätt möjliggöra enkel mätning av provens heterogenitet.
- Provvisning - Optisk avbildning och montage av stora områden för att visualisera dina prov och intressanta målområden.
- Konfigurerbar - Upp till två olika excitationslaser-våglängder plus en CL-modul som tillval.
- Automatiserad - Växling av laservåglängd med ett klick för Raman-analyser av krävande prov.
inLux-gränssnittsapplikationer
Identifiera källor till kontaminering
Raman-spektroskopi är en kontaktfri och icke-destruktiv teknik som kan tillhandahålla hög specifik kemisk information som gör den optimal för att identifiera källor till kontaminering. Raman-spektroskopi är särskilt kraftfull för analyser av kol och organiska källor till kontaminering som kan vara svåra att differentiera med hjälp av elementalanalys. En SEM kan användas för att lokalisera och studera morfologin hos som kontaminerande partiklar som inte kan lösas via optisk mikroskopi. Sedan kan dessa partiklar direkt användas för riktade Raman-analyser med hjälp av inLux-gränssnittet, utan att provet behöver flyttas.
Materialanalys
Många av de nya egenskaper som material uppvisar härrör från deras storlek, form eller tjocklek. Grafen, nanostänger och nanorör är exempel där hög förstoring av svepelektronmikroskopi är avgörande för att visualisera provet. Förutom att avslöja materialets kemiska och strukturella egenskaper, kan Raman-analyser ge information om fysiska egenskaper. inLux-gränssnittet kan skapa Raman-bilder som visar kristallinitet, belastning och elektroniska egenskaper som kan korreleras till de från SEM.
Anslut till olika Renishaw Raman-system
inLux-gränssnittet kan användas tillsammans med Renishaws Raman-spektrometrar och programvara i forskningsklass. Detta erbjuder omfattande process- och analysfunktioner samtidigt som den är intuitiv och lättanvänd. Från att identifiera kontaminering inom industrin till akademisk forskning; inLux-gränssnittet kan hjälpa dig att få ut det mesta från din SEM.
Virsa™ Raman-analysator
För dedikerade Raman-analyser kan inLux-gränssnittet anslutas till Virsa Raman-analysatorn. Virsa-analysatorn erbjuder en kompakt och kostnadseffektiv lösning för in-SEM Raman-analyser, med hög känslighet och spektralupplösning som förväntas från ett Raman-system i forskningsklass i ett rackmonterat chassi.
Ta reda på mer om Virsa-analysator
inVia™ konfokalt Raman-mikroskop
Anslut inLux-gränssnittet till inVia konfokala Raman-mikroskopet för att lägga till in-SEM-analys till världens mest sålda Raman-mikroskop i forskningsklass. inVia-mikroskopet erbjuder världsledande prestanda och känslighet i ett konfigurerbart utbud av laserexcitationsvåglängder, detektorer och skalor. Den är optimal för att analysera alla Raman-aktiva material. inVia-mikroskopet kan användas självständigt för Raman-analyser. Sedan kan din SEM vara tillgänglig för andra användare när mätning på plats inte krävs.
Ta reda på mer om inVia Raman-mikroskopMer information
Berätta om din SEM-konfiguration för att få reda på om ditt svepelektronmikroskop är kompatibelt med inLux SEM Raman-gränssnittet. Fyll i detta korta formulär genom att följa länken nedan, så blir du kontaktad av någon av våra experter.
Registrera dig nu för att se hela webbkonferensen när det passar dig
Nedladdningar: inLux SEM-Ramangränssnitt
-
Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
Specifikationer
| Parametrar | Värde |
| Massa | < 20 kg |
| Fiberoptisk kabellängd | 4,6 m |
| Kompatibla Raman-spektrometrar | Renishaw inVia konfokalt Raman-mikroskop, Renishaw Virsa-analysator |
| Kompatibla SEM-modeller | Kompatibla med modeller från alla större SEM-leverantörer |
| Krav på SEM-portar | Kräver ledig SEM-sidoport eller bakre port |
| SEM-prestanda | inLux-gränssnittet kräver inte några SEM-ändringar och kan dras tillbaka helt när det inte används så att det inte stör SEM-prestanda eller den från andra tillbehör |
| Rörelsestyrning | Trackpad, WiRE-programvara |
| Kontaktskydd | Kontaktsensor, säker arbetsvolym som övervakas via absoluta pulsgivare |
| Lasersäkerhet | Laser spärrad till kammarvakuum |
| Raman bildbehandling/avbildning | Levereras som standard |
| Val av fiberoptisk modul | Upp till två olika excitationslaser-våglängder + katodluminiscensmodul som tillval |
| Tillgängliga excitationslaser-våglängder | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (andra finns tillgängliga på begäran) |
| Laserväxling | Automatiserad, motordriven och programvarustyrd |
| Lateral spatiell upplösning | < 1 µm @ 532 nm |
| Konfokala prestanda | < 6 µm @ 532 nm |
| Spektral upplösning | Se bladet med spektrometer-specifikation |
| Mått | B 804 mm x H 257 mm x D 215 mm |