Hybrid-Ramansystem
Öka ditt Renishaw Raman-mikroskops kapacitet genom att koppla det till andra analytiska system från många olika tillverkare.
Med Renishaws system för korrelativ mikroskopi kan du vara säker på att du analyserar samma punkt med båda teknikerna.
Kontakta oss
SPM/AFM: Nanometerupplösning
Kombinera inVia™ Raman-mikroskopet med ett skannande probmikroskop (SPM), som t.ex. ett AFM (atomic force microscope) för att undersöka de kemiska och strukturella egenskaperna hos material. Lägg till kemisk upplösning i nanometerskala med spetsoptimerad Raman-spektroskopi TERS, för att samla in kompletterande information som t.ex. mekaniska egenskaper.
Nanoindentation: mätning av mekaniska egenskaper
Kombinera kraften hos Raman-mikroskopet inVia med nanoindentationsmätningar och korrelera direkt mekaniska och tribologiska egenskaper med kemisk information, som t.ex. kristallinitet, polymorfism, fas and stress.
Läs en artikel från Microscopy and Analysis Journal
-
Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
Vill du veta mer?
Din lokala representant hjälper gärna till med dina frågor.
Du kan kontakta dem genom att fylla i ett formulär eller skicka ett epost-meddelande.
Få de senaste nyheterna
Håll dig uppdaterad med våra senaste innovationer, nyheter, applikationer och produktlanseringar och få uppdateringar direkt till din inkorg.